超聲波探傷成象技術說明-飛泰

超聲波探傷通常以A型、B型、C型三種方法顯示。近年來，隨著電子技術，特別是微型電子計算機的發展，幾種新型顯示方法相繼研究成功。

目前工業超聲波探傷，廣泛采用A型顯示法。此方法使用簡便，應用范圍廣，并能對缺陷定位。缺陷的尺寸則是以當量平底孔的大小來評定的。缺點是難以判斷缺陷的性質、形狀和分布。因此，最好能結合B型、C型顯示法以助判斷。

當用發射一接收型單探頭探傷時，探頭受電脈沖激勵發出超聲波，回波信號經過高頻放大、檢波、視頻放大后輸向示波管。設探頭處于試樣上方在C點入射，則一部份超聲波從上表面反射回來，稱為界面波;穿透的超聲波在缺陷處反射回來，稱為缺陷波;其余部份從底面反射回來，稱為底波。當然也有部份超聲波穿過試樣。常用的三個反射信號表示在右邊的熒光屏上，根據缺陷波在界面波和底波之間的相對位置，可以計算缺陷F在試樣中的位置。由缺陷回波的高低可以評定它的大小，這就是A型顯示:如果探頭沿AB作直線掃描，則可將超聲波傳播時間和回波位置之間的關系顯示在左邊的存儲示波器熒光屏上，它相當于試樣在AB位置的截面圖，表示缺陷F距上下表面的位置分布，這就是B型顯示，把探頭的這種動作方式稱為B掃描。當探頭在試樣上方沿XY坐標逐點掃描，調節門電路，只選取上下表面之間的反射信號顯示在下邊的存儲示波器熒光屏上，它表示在試樣內部，所調節的門限范圍內的缺陷在XY平面上的投影，這就是C顯示，把探頭的這種動作方式稱為C掃描。

對于不需要知道缺陷深度分布的試樣，C型顯示可以直接表示缺陷的平面形狀。所以可具有較好的使用價值;如航空工業中的鍛件、盤、蜂窩結構、膠合件及復合材料等，均可采用此種顯示方式進行檢查。